Измеряем параметры ёмкости и индуктивности с помощью NanoVNA

Давно хотел купить измеритель RLC пинцетного типа, чтобы знать с какими SMD компонентами веду работу… но они стоят от 6т.р.

Тут в голову пришла мысль — сделать пинцет для имеющейся в наличии NanoVNA, которая к томуже умеет измерять параметры в широком диапазоне частот, добротность, да и стоит намного меньше.

Сказано — сделано, берём щуп-пинцет от мультиметра, часто продающийся в магазине радиодеталей. К нему крепим кусок кабеля (в моём случае тонкий RG-178) и SMA разъём от RG-174.

Выбираем нужный частотный диапазон и калибруем прибор с щупом (в открытом состоянии, замкнутом и прислонив к 50омной нагрузке). Сохраняем.

Аппаратная часть на этом готова, займёмся программной. Устанавливаем NanoVNASaver, заходим в Display Setup.

Выбираем отображение диаграммы ганта, ёмкости, индуктивности и добротности.

Заходим в Settings и выбираем отображение нужной информации под маркером.

Всё, можно приступать к измерениям, начнём с обычных SMD резисторов.
10ом.

Строка Parallel R — то что нам нужно, точность отличная.
Идём дальше, 2 кОма.

Также всё ок, сдвигаем ползунок по графику вправо, и…

На частоте в 200мгц резистор потерял всё своё сопротивление…

Окей, переходим к ёмкости.
3pf SMD 0805

Parallel C слегка завышен, думаю изза паразитных ёмкостей в щупе (а может и ёмкость такая), но это не так страшно. На 100 мгц работает на ура.

Возьмём 100nf ёмкость такого же типоразмера.

Ёмкость ведёт себя как ёмкость только до 2х мегагерц, далее ёмкость резко растёт и она превращается в индуктивность… на более высоких частотах применение данной ёмкости невозможно.

Возьмём всеми ненавистные высоковольтные конденсаторы, 33пф, 2 квольта. Все ругают их за невозможность работы на ВЧ, проверим.

Да отлично они работают! вплоть до УКВ, по крайней мере конденсаторы небольшой ёмкости. В идеале на диаграмме смита должен получится круг, а график ёмкости должен быть горизонтальным.

Возьмём стандартные конденсаторы типа К10-17

А вот с ними всё плохо, рабочие частоты не дотягивают даже до граничных КВ. (120 и 470пф)

Вот к примеру 200пф типоразмера SMD 0805. Индуктивностью он стал на УКВ диапазоне.

Перейдём к индуктивностям. Дроссель на 10мкгн от компьютерного ШИМа.

Работает она до 2мгц, что нормально для цепей питания.

Возьмём 100нГ в большом добротном высоком корпусе SMD 1206.

Индуктивность вполне стабильна, добротность на уровне 13.

И сравним с китайской индуктивностью типорзмера 0805.

Менее стабильна на УКВ, имеет собственный резонанс в области 90мгц, ниже добротность в рабочей полосе… но она вполне пригодна и применима в реальных устройствах.

На этом откланяюсь и оставлю простор для Ваших собственных экспериментов.

10 мыслей о “Измеряем параметры ёмкости и индуктивности с помощью NanoVNA”

  1. Что то странно. СМД работают меньше по частоте чем с длинными выводами.
    Может их внутренняя структура влияет.
    хотя мне кажется провода щупа

    1. Поидее провода и щуп не должны влиять, ведь калибровка производится с их учётом, принимается за ноль.

    2. Может плоские конгтакты создают больше паразитной ёмкости чем тонкие проволочные…

  2. А то что синяя китайская керамика не работает на ВЧ — это имеется ввиду что у нее большие потери при передачи мощности. Поэтому и ставят наши типа К15У

  3. Наблюдал неприятный эффект при проведении измерений с подключенным кабелем USB при измерении электрической длины куска кабеля. Сравните ваши результаты Nano-VNA в автономном режиме и с подключением к компьютеру .

  4. Здравствуйте. Скажите, пожалуйста, какой верхний предел измерения таким методом? Примерно хотя бы….

  5. Хотя в принципе понятно, что большие емкости измеряются на низких частотах. Просто интересовался как это делает NanoVNA. А индуктивности лучше конечно смотреть на параллельных резонансах.

  6. Здравствуйте, RA3TGG пишет: «… при измерении электрической длины куска кабеля». А как нужно использовать NanoVNA, для поиска места повреждения закрытого экранированного кабеля (обрыв центральной жилы)?

Добавить комментарий для Андрей Отменить ответ

Ваш адрес email не будет опубликован. Обязательные поля помечены *